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National Instruments organise des journées techniques sur l’acquisition de données

Organisées en collaboration avec le fabricant de capteurs Kistler, ces journées seront composées de présentations faites par des ingénieurs et destinées à couvrir toute la chaîne de mesure, du capteur jusqu’à la mise en œuvre d’applications. Les conférenciers passeront notamment en revue les différents types de capteurs de mesure, leur interfaçage avec le matériel de conditionnement de signaux, les critères de choix du matériel d’acquisition de données, ainsi que la mise en œuvre d’applications de mesure. L’ensemble sera illustré de nombreux exemples et démonstrations, qui seront ensuite disponibles au téléchargement pour les participants.

A l’occasion de ces journées, les ingénieurs de NI expliqueront également l’apport des nouvelles technologies informatiques (Windows 7, la virtualisation sur PC, le multicœur…), pour les applications d’acquisition de données.

Calendrier :

Le 15 avril à Bordeaux

Le 20 avril à Strasbourg

Le 22 avril à Lille

Le 27 avril à Grenoble

Le 29 avril à Marseille

Le 4 mai à Rennes

Le 6 mai à Paris

Chaque journée débutera à 9h00 pour s’achever à 16h00. Pour connaître le programme détaillé et s’inscrire, les lecteurs peuvent visiter la section événement du site ni.com/fr, et appeler Christine RIO au 01 57 66 24 24.

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National Instruments www.ni.com/fr


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