Le reflectCONTROL Sensor de Micro-Epsilon exécute une inspection 3D sur les surfaces miroitantes et brillantes. La détection précise des anomalies permet de respecter les exigences de qualité les plus élevées. Les écarts de planéité de l’ordre de quelques micromètres sont détectés de manière précise. La surveillance peut être stationnaire dans la ligne de production ainsi que sur le robot.

Ce capteur est utilisé partout où des mesures 3D de haute précision sur des surfaces réfléchissantes et brillantes sont demandées. La technologie reflectCONTROL convainc par des fréquences de mesure élevées avec une précision micrométrique et sur les surfaces planes en particulier.

Le capteur compact génère un motif de franges, qui est réfléchi par le biais de la surface de l’objet dans la caméra du capteur. Les déformations dans le motif de franges représentent des déviations de surface qui sont alors évaluées par un logiciel.

Le capteur 3D reflectCONTROL reconnait de manière fiable des écarts de planéité inférieurs à 1 µm. Le capteur reflectCONTROL est utilisé, par exemple, pour la détection de figure 3D des wafers dans la production de semi-conducteurs et le contrôle de la qualité du verre plat, comme dans la production de smartphones.

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